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Sub-10 nm spatial resolution for electrical properties measurements using bimodal excitation in electric force microscopy (vol 92, 023703, 2021)

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Contributeur : Louise Dessaivre Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : vendredi 1 avril 2022 - 14:16:46
Dernière modification le : jeudi 7 avril 2022 - 13:58:22

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Khaled Kaja, Denis Mariolle, Nicolas Chevalier, Adnan Naja, Mustapha Jouiad. Sub-10 nm spatial resolution for electrical properties measurements using bimodal excitation in electric force microscopy (vol 92, 023703, 2021). Review of Scientific Instruments, 2021, 92 (4), ⟨10.1063/5.0052231⟩. ⟨hal-03627682⟩

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